VU Boekhandel

Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

Hoofdkenmerken

Auteur:	Hayes, John P.
Titel:	Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty
Uitgever:	Springer
ISBN:	9789048196432
ISBN boekversie:	9789048196449
Serie:	124 pages, 24 Tables, black and white; XII, 124 p.
Editie:	2012
Prijs:	€ 105,92
Verschijningsdatum:	21-09-2012
Bericht:

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	P
Categorie:	Computer architecture & logic design

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:

Hardback

Inhoud:

Combining theory with practical examples, this volume presents a comprehensive overview of logic circuits. The text presents techniques used to analyze, design and test logic circuits with probabilistic behavior, and provides a multidisciplinary approach to uncertainty.

Inhoudsopgave:

Netherlands