Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Fault Tolerant & Testable Sequential Reversible Circuit Design
Hoofdkenmerken
Auteur: Pareek Vishal; Jain Sushil
Titel: Fault Tolerant & Testable Sequential Reversible Circuit Design
Uitgever: LAP Lambert Academic
ISBN: 9783659671685
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 44.08
Verschijningsdatum: 27-01-2015
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: General (US: Trade)
Categorie: Technology: general issues
Geillustreerd: black & white illustrations
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 84
Hoogte mm.: 229
Breedte mm.: 152
Dikte mm.: 5
Gewicht gr.: 122
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967