Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Hoofdkenmerken
Auteur: Goldstein, Joseph I.;
Titel: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Uitgever: Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781493982691
Editie: Softcover reprint of the original 4th ed. 2018
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 119,78
Verschijningsdatum: 30-08-2018
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Professional & Vocational
Categorie: Testing of materials
Geillustreerd: 348 Tables, color; 409 Illustrations, color; 137 Illustrations, black and white; XXIII, 550 p. 546 illus., 409 illus. in color.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 550
Hoogte mm.: 209
Breedte mm.: 277
Dikte mm.: 33
Gewicht gr.: 1498
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact