Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Value Analysis Tear-down A New Process for Product Deve
Hoofdkenmerken
Auteur: Kaufman, J. Jerry; Sato
Titel: Value Analysis Tear-down A New Process for Product Deve
Uitgever: Industrial Press Inc.,U.S.
ISBN: 9780831132033
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 83.79
Verschijningsdatum: 12-01-2004
Bericht: Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Tertiary Education (US: College)
Categorie: Functional analysis & transforms
Geillustreerd: Tables, black and white illustrations
Dewey code: 658.575
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 206
Hoogte mm.: 229
Breedte mm.: 159
Dikte mm.: 17
Gewicht gr.: 472
 

Inhoud:

The authors describe a process they developed for improving existing products as well as creating new and better ones. Combining traditional tear- down with technologies of value analysis and value engineering, this process helps engineers and managers to reduce product cost, improve quality, and d
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967