VU Boekhandel

Fault Tolerant and Fault Testable Hardware Design

Hoofdkenmerken

Auteur:	Lala, Parag K
Titel:	Fault Tolerant and Fault Testable Hardware Design
Uitgever:	BSP Books Pvt. Ltd
ISBN:	9789386819062
ISBN boekversie:	9788178001853
Editie:	1
Prijs:	€ 99,46

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Logic
Taal:	English
Imprint:	BSP Books Pvt. Ltd

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:

E-book

Inhoudsopgave:

1. Basic Concepts of Reliability 2. Faults in Digital Circuits 3. Test Generation 4. Fault Tolerant Design of Digital Systems 5. Self - Checking and Fail - Safe logic 6. Design for Testability