VU Boekhandel

Hoofdkenmerken

Auteur:	Wartenberg, Scott
Titel:	RF Measurements of Die and Packages
Uitgever:	Artech House Publishers
ISBN:	9781580532730
Serie:	Microwave Library
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 134,43
Verschijningsdatum:	31-05-2002
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Leesniveau:	Technical / Manuals
Categorie:	Circuits & components
Geillustreerd:	black & white illustrations
Dewey code:	621.3815

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	244
Hoogte mm.:	167
Breedte mm.:	241
Dikte mm.:	17
Gewicht gr.:	530

Inhoud:

This text explains how to perform high-accuracy RF measurements of die and packages in the RF test lab. It defines the essential elements in an RF system, explains where errors can be found in such a system and shows how to mathematically remove them with calibration.