VU Boekhandel

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Third Edition

Hoofdkenmerken

Auteur:	Goldstein, Joseph; Newbury
Co Auteur:	Charles E. Lyman (Lehigh University, Bethlehem, PA, USA)
Titel:	Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Third Edition
Uitgever:	Springer Science+Business
ISBN:	9780306472923
Editie:	Third Edition 2003
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 148.99
Verschijningsdatum:	31-01-2003
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Materials science
Geillustreerd:	XIX, 689 p. With online files/update.
Dewey code:	502.825

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	689
Hoogte mm.:	255
Breedte mm.:	178
Dikte mm.:	38
Gewicht gr.:	1684

Inhoud:

In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.