VU Boekhandel

Atom-Probe Tomography The Local Electrode Atom Probe

Hoofdkenmerken

Auteur:	Miller, Michael K.; Forbes
Titel:	Atom-Probe Tomography The Local Electrode Atom Probe
Uitgever:	Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:	9781489974297
ISBN boekversie:	9781489974303
Editie:	2014 ed.
Land van oorsprong:	United States
Prijs:	€ 193.69
Verschijningsdatum:	02-08-2014
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Testing of materials
Geillustreerd:	62 Illustrations, color; 120 Illustrations, black and white
Dewey code:	530.41

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	423
Hoogte mm.:	242
Breedte mm.:	163
Dikte mm.:	23
Gewicht gr.:	766

Inhoud:

Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.