Hoofdkenmerken
Auteur:
Williams, David B.; Carter
Titel:
Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Scien
Uitgever:
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN:
9780387765020
Vervangt ISBN:
9780306453243
ISBN boekversie:
9780387765013
Editie:
2nd ed. 2009
Land van oorsprong:
United States
Prijs:
€ 86.50
Verschijningsdatum:
05-08-2009
Bericht:
Tijdelijk niet leverbaar - levertijd onbekend
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau:
Undergraduate
Categorie:
Materials science
Geillustreerd:
LXII, 775 p.
Dewey code:
502.825
Technische kenmerken
Verschijningsvorm:
Paperback / softback
Paginas:
775
Hoogte mm.:
280
Breedte mm.:
216
Dikte mm.:
64
Gewicht gr.:
2726
Inhoud: The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment.
nl
en
