VU Boekhandel

Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs

Hoofdkenmerken

Auteur:	Aaen, Peter; Pla, Jaime A.
Co Auteur:	John Wood
Titel:	Modeling and Characterization of RF and Microwave Power FETs
Uitgever:	Cambridge University Press
ISBN:	9780521870665
ISBN boekversie:	9780511372414
Serie:	Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Serie:	The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Land van oorsprong:	United Kingdom
Prijs:	€ 190.50
Verschijningsdatum:	25-06-2007
Bericht:	Langere levertijd (2-3 weken)

Inhoudelijke kenmerken

Categorie:	Semi-conductors & super-conductors
Dewey code:	621.3815284

Technische kenmerken

Verschijningsvorm:	Hardback
Paginas:	380
Hoogte mm.:	244
Breedte mm.:	170
Dikte mm.:	22
Gewicht gr.:	800

Inhoud:

This book was the first to be devoted to the compact modeling of RF power FETs. In it, you will find the techniques, verification and validation procedures required to produce a transistor model. The text also contains real-world examples.