Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979
Hoofdkenmerken
Auteur: R A Powell C A Evans A Benninghoven
Co Auteur: R Shimizu
Redactie: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Titel: Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II), Stanford University, Stanford, California, USA, August 27-31, 1979
Uitgever: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN: 9783540098430
Serie: Springer Series in Chemical
Land van oorsprong: Germany
Prijs: € 93.99
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Professional & Vocational
Categorie: Physics
Geillustreerd: biography
Dewey code: 530
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Gewicht gr.: 745
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact