Nederlands
nl		 English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
VU GIFTS
DOCENTEN
TWEEDEHANDS
STUDIEBOEKEN
VAKLITERATUUR
 
Spatial Point Patterns Methodology and Applications with R
Hoofdkenmerken
Auteur: Baddeley, Adrian
Titel: Spatial Point Patterns Methodology and Applications with R
Uitgever: Taylor & Francis Inc
ISBN: 9781482210200
ISBN boekversie: 9781040072721
Serie: Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 157,50
Verschijningsdatum: 24-11-2015
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Geographical information systems (GIS) & remote sensing
Geillustreerd: 63 Tables, black and white; 408 Illustrations, black and white
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 810
Hoogte mm.: 188
Breedte mm.: 262
Dikte mm.: 52
Gewicht gr.: 1722
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967
 
VAKLITERATUUR
studieboeken
docenten
partners
contact