Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Hoofdkenmerken
Auteur: Williams, David B.
Redactie: Williams, David B.
Titel: X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Uitgever: Springer Science+Business
ISBN: 9780306448584
Editie: and ed.
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 199.64
Verschijningsdatum: 31-03-1995
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Undergraduate
Categorie: Materials science
Geillustreerd: XVIII, 372 p.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 372
Hoogte mm.: 254
Breedte mm.: 178
Gewicht gr.: 2130
 

Inhoud:

From its early days in the 1950s, the electron microanalyzer has offered two principal ways of obtaining x-ray spectra: wavelength dispersive spectrometry (WDS), which utilizes crystal diffraction, and energy dispersive spectrometry (EDS), in which the x-ray quantum energy is measured directly.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967