Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Fan-Beam Multiplexed Compton Scatter Tomography for Single-Sided Noninvasive Inspection
Hoofdkenmerken
Auteur: Evans, Brian L
Titel: Fan-Beam Multiplexed Compton Scatter Tomography for Single-Sided Noninvasive Inspection
Uitgever: Biblioscholar
ISBN: 9781288317387
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 51.91
Verschijningsdatum: 19-11-2012
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: General (US: Trade)
Categorie: Education
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Paperback / softback
Paginas: 172
Hoogte mm.: 246
Breedte mm.: 189
Dikte mm.: 9
Gewicht gr.: 318
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967