Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Testing Complex and Embedded Systems
Hoofdkenmerken
Auteur: Pries, Kim H.
Titel: Testing Complex and Embedded Systems
Uitgever: Taylor & Francis Inc
ISBN: 9781439821404
ISBN boekversie: 9781351688994
Land van oorsprong: United States
Prijs: € 178.80
Verschijningsdatum: 08-12-2010
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Categorie: Computer architecture & logic design
Geillustreerd: 1 Tables, black and white; 100 Illustrations, black and white
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 320
Hoogte mm.: 234
Breedte mm.: 160
Dikte mm.: 24
Gewicht gr.: 628
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967