Nederlands
nl
English
en
contact veelgestelde vragen
log in
VU
 
Scanning Electron Microscopy Physics of Image Formation and
Hoofdkenmerken
Auteur: Reimer, Ludwig
Titel: Scanning Electron Microscopy Physics of Image Formation and
Uitgever: Springer-Verlag Berlin and
ISBN: 9783540639763
Vervangend ISBN: 9783540853176
Serie: Springer Series in Optical
Editie: 2nd completely rev. and updated ed. 1998
Land van oorsprong: Germany
Prijs: € 292.81
Verschijningsdatum: 17-09-1998
Bericht: Langere levertijd (2-3 weken)
Inhoudelijke kenmerken
Leesniveau: Postgraduate, Research & Scholarly
Categorie: Optical physics
Geillustreerd: XIV, 529 p.
Technische kenmerken
Verschijningsvorm: Hardback
Paginas: 529
Hoogte mm.: 166
Breedte mm.: 242
Dikte mm.: 34
Gewicht gr.: 954
 

Inhoud:

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
leveringsvoorwaarden privacy statement copyright disclaimer veelgestelde vragen contact
 
VUBOEKHANDEL.NL VU Boekhandel boekverkopers sinds 1967